MC-S2系列点激光位移传感器可以根据目标物的反射率对CMOS曝光进行控制与优化。因此，对大部分目标均可进行稳定测量, 测量目标从黑色橡胶到光滑的金属表面。 MC-S2系列广泛应用于3C制造生产线、机器人、数控中心等场 景的在线、离线测量。
点激光位移传感器
| MC-S2-10-D0 | MC-S2-20-D0 | MC-S2-50-D0 | MC-S2-100-D0 | MC-S2-200-D0 | |
| 型号 | MC-S2-10-D1 | MC-S2-20-D1 | MC-S2-50-D1 | MC-S2-100-D1 | MC-S2-200-D1 |
| MC-S2-10-D2 | MC-S2-20-D2 | MC-S2-50-D2 | MC-S2-100-D2 | MC-S2-200-D2 | |
| 测量起点 | 27mm | 35mm | 45mm | 60mm | 80mm |
| 量程 | 10mm | 20mm | 50mm | 100mm | 200mm |
| 分辨率 | 0.5μm | 1μm | 2.5μm | 5μm | 10μm |
| 重复精度(24h) | ±3μm | ±5μm | ±7.5μm | ±15μm | ±30μm |
| 线性度 | ±0.1%F.S. | ±0.15%F.S. | |||
| 采样频率 | Max.2kHz | ||||
| 温漂 | ±0.05%F.S./℃ | ||||
| 光源 | 650nm半导体红光 | ||||
| 电源 | 18-28VDC/100-1000mA | ||||
| 防护等级 | IP67 | ||||
| 体积 | 65mm×55mm×26mm | ||||
| 重量 | 145g | ||||
| 备注 |
1.上述精度指标是在标准测试条件下得到（标准被测表面、标准测试环境、采样频率2kHz，取64次平均值）； 2.产品测量范围从10mm-200mm，如有需求可咨询销售热线。 |
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PRODUCT PARAMETERS
产品参数
平整度的测量——多测头测量物体平面度
接缝检测——橡胶带的接缝检测
接缝检测——熔接的接缝检测
橡胶、塑料等弹性材质的测量
MC-S2-50 点激光位移传感器
点激光位移传感器可以根据目标物的反射率对CMOS曝光进行控制与优化，对大部分目标均可进行稳定测量。
测量范围
45mm-95mm
重复精度
±7.5μm
线性度
0.1%F.S.
分辨率
2.5μm
MC-S2-100 点激光位移传感器
点激光位移传感器可以根据目标物的反射率对CMOS曝光进行控制与优化，对大部分目标均可进行稳定测量。
测量范围
60mm-160mm
重复精度
±15μm
线性度
0.1%F.S.
分辨率
5μm
MC-S2-200 点激光位移传感器
点激光位移传感器可以根据目标物的反射率对CMOS曝光进行控制与优化，对大部分目标均可进行稳定测量。
测量范围
80mm-280mm
重复精度
±30μm
线性度
0.15%F.S.
分辨率
10μm
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